Trenutno silikonski solarni PV uglavnom koristi monokristalne oblatne P-oblika 156,75 mm x 156,75 mm, ali neke od njih prelaze u veće oblatne i veličine ćelija, poput 158,75 mm x 158,75 mm. Neki od proizvođača već su započeli taj proces. Jedan od razloga zašto se kvadratna oblatna 158,75 mm sve više fokusira je taj što su dimenzije modula bliske prošlim standardnim 60-ćelijskim iModuli sa 72 ćelije, koji omogućavaju naknadnu ugradnju i zadržavanje postojeće proizvodne opreme.
U budućnosti za mono-Si oblatne, 158,75 mm puni kvadrat postat će najuspješniji dizajn većine proizvođača solarnih PV. Naravno da postoji nekoliko proizvođača koji koriste oblatne veće od ove. LG i Hanwha Q Cells, na primjer, koriste oblatne M4 (161,7 mm), dok Longi promovira 166 mm (M6) napolitanke.
1 Svojstva materijala
Vlasništvo | Specifikacija | Način inspekcije |
Metoda rasta | CZ | |
Kristalnost | Monokristalni | Preferencijalne tehnike jetkanja（ASTM F47-88） |
Tip vodljivosti | P-tip | Napson EC-80TPN P/N |
Dopant | Boron, Galij | - |
Koncentracija kisika [Oi] | ≦8E+17 at / cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Koncentracija ugljenika [Cs] | ≦5E+16 at / cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Gustina nagrizane jame (gustoća dislokacije) | ≦500 cm-3 | Preferencijalne tehnike jetkanja（ASTM F47-88） |
Orijentacija površine | & lt; 100> ± 3 ° | Metoda difrakcije rendgenskih zraka (ASTM F26-1987) |
Orijentacija pseudo kvadratnih stranica | & lt; 010>,< 001=""> ± 3 ° | Metoda difrakcije rendgenskih zraka (ASTM F26-1987) |
2 Električna svojstva
Vlasništvo | Specifikacija | Način inspekcije |
Otpornost | 0,5-1,5 Ωcm | Sistem inspekcije oblatni |
MCLT (životni vijek manjinskog prijevoznika) | ≧50 μs | Sinton BCT-400 (sa nivoom ubrizgavanja: 1E15 cm-3) |
3Geometrija
Vlasništvo | Specifikacija | Način inspekcije |
Geometrija | Pun kvadrat | |
Duljina bočne pločice | 158,75 ± 0,25 mm | sistem inspekcije oblatni |
Promjer oblatne | φ223 ± 0,25 mm | sistem inspekcije oblatni |
Kut između susjednih stranica | 90° ± 0.2° | sistem inspekcije oblatni |
Debljina | 180﹢20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | sistem inspekcije oblatni |
TTV (Ukupna varijacija debljine) | ≤27 µm | sistem inspekcije oblatni |
4 Svojstva površine
Vlasništvo | Specifikacija | Način inspekcije |
Metoda rezanja | DW | -- |
Kvalitet površine | kao izrezani i očišćeni, bez vidljive kontaminacije (ulje ili mast, otisci prstiju, mrlje od sapuna, mrlje od gnojnice, epoksidne / ljepljive mrlje nisu dozvoljene) | sistem inspekcije oblatni |
Oznake / stepenice pile | ≤ 15µm | sistem inspekcije oblatni |
Luk | ≤ 40 µm | sistem inspekcije oblatni |
Warp | ≤ 40 µm | sistem inspekcije oblatni |
Chip | dubina ≤0,3 mm i dužina ≤ 0,5 mm Max 2 / kom; nema V-chip | Golim očima ili sistem inspekcije oblatni |
Mikro pukotine / rupe | Nije dopusteno | sistem inspekcije oblatni |
Popularni tagovi: p tip 158,75 mm monokristalna solarna pločica, Kina, dobavljači, proizvođači, tvornica, proizvedena u Kini
