P tip M12 Monocrystalline Solar Wafer

P tip M12 Monocrystalline Solar Wafer

U 2019. godini, M12 (210mm x 210mm) p-Type mono wafers (silicon ingot promjera 295mm) je prao. Očekivalo se da će format M2 (156,75mm x 156,75mm) biti smještan po M12 i M6.
Share to
Pošaljite upit
Chat Sada
Opis
Tehnički parametri


158.75mm Full Square Monocrystalline Solar Wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


U 2019. godini, M12 (210mm x 210mm) p-Type mono wafers (silicon ingot promjera 295mm) je prao. Očekuje se da će format M2 (156,75mm x 156,75mm) biti smještan po M12 i M6.


1      Svojstva materijala

 

imovina

Specifikacija

Metoda inspekcije

Metoda rasta

Cz


Kristalnost

Monocrystalline

 

Preferencijalni etch tehnikeASTM F47-88

Tip provodljivosti

P-tip

Napson EC-80TPN

P/N

Dopant

 

Bor, Galijum

 

-

Koncentracija kisika[Oi]

≦8E+17 na/cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Koncentracija ugljika[Cs]

5E+16 na/cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Etch pit density (density dislocation)

500 cm-3

Preferencijalni etch tehnikeASTM F47-88

Površinska orijentacija

<100>±3°

Metoda difrakcije rendgena (ASTM F26-1987)

Orijentacija pseudo kvadratne strane

<010>,<001>±3°

Metoda difrakcije rendgena (ASTM F26-1987)

 

2      Električna svojstva

 

imovina

Specifikacija

Metoda inspekcije

Otpornost

0,5-1,5 Ωcm

Sistem za inspekciju wafera

MCLT (vijek života manjinskog nosača)

50 μs

Sinton BCT-400

(sa razinom injekcije: 1E15 Cm-3)

 

3      Geometrija

 

imovina

Specifikacija

Metoda inspekcije

Geometrija

Full square


Dužina wafer side

210±0,25 mm

sistem inspekcije wafera

Promjer wafera

φ295±0,25 mm

sistem inspekcije wafera

Ugao između susjednih strana

90° ± 0.2°

sistem inspekcije wafera

Debljina

18020/10 μm;

17020/10 μm

sistem inspekcije wafera

TTV (Total thickness variation)

27 μm

sistem inspekcije wafera


 210mmx210mm M12 monocrystalline silicon solar wafer

 

 

4      Svojstva površine

 

imovina

Specifikacija

Metoda inspekcije

Metoda reznja

DW

--

Kvalitet površine

kao izrezana i očišćena, nema vidljive kontaminacije, (ulje ili mast, otisci prstiju, mrlje od sapuna, mrlje od mulja, epoksi/mrlje ljepila nisu dozvoljene)

sistem inspekcije wafera

Tragovi pile / koraci

≤ 15μm

sistem inspekcije wafera

Luk

≤ 40 μm

sistem inspekcije wafera

Warp

≤ 40 μm

sistem inspekcije wafera

Čip

dubina ≤0.3mm i dužina ≤ 0.5mm Max 2/pcs;   nema V-čipa

Gole oči ili sistem inspekcije wafera

Mikro pukotine / rupe

Nije dozvoljeno

sistem inspekcije wafera




Popularni tagovi: p tip m12 monocrystalline solarni wafer, Kina, dobavljači, proizvođači, tvornica, napravljena u Kini

Pošaljite upit
Pošaljite upit